全反射X熒光光譜儀有哪些優(yōu)勢之處

與原子吸收及發(fā)射光譜方法相比，TXRF具有如下優(yōu)勢：

1、無需復(fù)雜的樣品前處理過程，原子吸收或ICP的樣品前處理占據(jù)了整個分析過程的絕大部分時間，通常耗時幾個小時甚至幾天，同時TXRF能有效避免前處理引入的誤差；

2、對于易揮發(fā)元素有良好檢測效果，如Hg/As/Se在消解過程中會損失，Cl/Br/I等ICP檢測效果較差；

3、檢測元素種類更多，可達(dá)80余種, 元素分析范圍從Na覆蓋到U；

4、檢出限更低，多數(shù)元素在ppt級，尤其Pb/Rh等元素，而原子吸收或ICP為ppb級。

 

與ICP-MS方法相比，兩者檢出限基本持平，但TXRF可以無視ICP-MS如下痛點(diǎn)：

1、ICP-MS的耐鹽度較差，分析高鹽分樣品時檢出限差（S/Ca/Fe/K/Se等），同時酸基體對于測量影響顯著，如鹽酸、高氯酸、磷酸、硫酸會引起質(zhì)譜干擾；

2、ICP-MS根據(jù)質(zhì)核比檢測元素，當(dāng)存在同質(zhì)異位素時，很難的完成檢測；

3、ICP-MS需要超凈實(shí)驗(yàn)室，造價昂貴；

4、ICP-MS運(yùn)行成本高，取樣錐、渦輪泵、檢測器為易損件。